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標準編（biān）號
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標準名稱
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GB/T 2423.1-2001
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電（diàn）工（gōng）電子產（chǎn）品環境（jìng）試驗 第2部分（fèn）：試（shì）驗方法 試驗A：低溫
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GB/T 2423.2-2001
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電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
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GB/T 2423.3-1993
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電工電子產品基本（běn）環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
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GB/T 2423.4-1993
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Db: 交變濕熱試驗方法
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GB/T 2423.5-1995
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電工電子（zǐ）產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和（hé）導則：衝擊
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GB/T 2423.6-1995
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞
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GB/T 2423.7-1995
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電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分:試驗方法（fǎ） 試驗Ec和導則（zé）:傾跌與翻（fān）倒(主要用（yòng）於設備型樣品)
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GB/T 2423.8-1995
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電工（gōng）電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed:(自由跌落)測試項目 請點擊查看
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GB/T 2423.9-2001
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電（diàn）工電子產品環（huán）境（jìng）試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設備用恒定濕熱
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GB/T 2423.10-1995
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試（shì）驗方法（fǎ） 試驗（yàn）Fc和導則:振動(正弦)
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GB/T 2423.11-1997
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電工電子產（chǎn）品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動（dòng）--一般要求
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GB/T 2423.12-1997
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電工電子產品環境試驗 第2部分（fèn）:試（shì）驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動--高（gāo）再現（xiàn）性
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GB/T 2423.13-1997
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電工電子產（chǎn）品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振（zhèn）動--中再現性
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GB/T 2423.14-1997
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電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶（dài）隨機振動--低再現性
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GB/T 2423.15-1995
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電（diàn）工電子產品環境（jìng）試驗 第2部分:試驗（yàn）方法 試驗Ga和導則:穩態加速（sù）度
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GB/T 2423.17-1993
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電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規程試驗Ka:鹽霧試驗方（fāng）法
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GB/T 2423.18-2000
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電（diàn）工電子產品環境試（shì）驗 第2部分（fèn）：試驗 試（shì）驗Kb：鹽霧，交變（氯（lǜ）化鈉（nà）溶液）
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GB/T 2423.21-1991
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電工電子產品基本環境試驗（yàn）規程 試驗 M: 低（dī）氣壓試（shì）驗方（fāng）法
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GB/T 2423.22-2002
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電工電子產品（pǐn）環境試（shì）驗 第2部（bù）分：試驗方法（fǎ） 試驗（yàn）N：溫度變化
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GB/T 2423.23-1995
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電工（gōng）電（diàn）子產品（pǐn）環境試驗 試驗Q:密（mì）封
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GB/T 2423.24-1995
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電工電子產品環（huán）境試驗 第2部分（fèn）:試驗方法 試驗Sa:模擬地麵上的太陽輻射(IEC 60068)查看
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GB/T 2423.25-1992
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電工電子（zǐ）產品基本（běn）環境試驗規程（chéng） 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
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GB/T 2423.26-1992
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電工電子（zǐ）產品基本環境試（shì）驗規（guī）程 試驗（yàn）Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
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GB/T 2423.27-1981
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電工電（diàn）子產品基本環境（jìng）試驗規程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕（shī）熱連續綜合試驗方法
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GB/T 2423.28-1982
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電工電子產品基本環（huán）境試驗規程 試驗T:錫焊試驗（yàn）方法
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GB 2423.31-1985
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電工電子產品基（jī）本環境試驗規程 傾斜和搖（yáo）擺試驗（yàn）方法
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GB/T 2423.34-1986
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電工電子（zǐ）產（chǎn）品基本環境試驗規程 試驗Z/AD:溫度（dù）/濕度組合（hé）循環試驗方法
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GB/T 2423.35-1986
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電工電（diàn）子產品（pǐn）基本環境試驗規程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正（zhèng）弦)綜合試（shì）驗方法
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GB/T 2423.36-1986
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電工電子產品基本環境試驗規程（chéng） 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動（dòng）(正弦)綜合試驗方
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GB/T 2423.38-1990
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電工（gōng）電子產品基本環境試驗規程 試驗R:水試驗方（fāng）法
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GB 2423.39-1990
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ee:彈跳試驗方法
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GB/T 2423.40-1997
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電工電子產品（pǐn）環（huán）境試（shì）驗（yàn） 第2部分:試驗方法 試驗（yàn）Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
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GB/T 2423.41-1994
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電工電子產品基（jī）本環境試驗規程 風壓試驗方法
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GB/T 2423.42-1995
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電工電子產品環境試驗 低溫/低（dī）氣壓/振動(正弦) 綜合試驗方法
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GB/T 2423.43-1995
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電工電子產（chǎn）品環境試驗 第2部分:試驗方法 元件、設備和其他產品在衝擊(Ea)、碰撞（zhuàng）(Eb)、振動(Fc和Fd)和穩態加速（sù）度(Ga)等動力學（xué）試驗（yàn）中的安裝要求和導則
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GB/T 2423.44-1995
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電工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘
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GB/T 2423.45-1997
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電工（gōng）電子產（chǎn）品環境試驗 第2部分:試驗方法（fǎ） 試驗（yàn）Z/ABDM:氣候順（shùn）序
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GB/T 2423.47-1997
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電工電子產品環境（jìng）試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振
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GB/T 2423.48-1997
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電工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振（zhèn）動--時間曆程法
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GB/T 2423.49-1997
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電工電子產品（pǐn）環境試驗 第2部分:試驗（yàn）方法 試（shì）驗Fe:振（zhèn）動--正弦拍頻法
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GB/T 2423.50-1999
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電工電（diàn）子產品環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法 試（shì）驗Cy：恒定濕熱主要用於元件（jiàn）的加速試驗
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GB/T 2423.51-2000
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電工電子產品環境試驗 第2部分（fèn）：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗
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GB/T 2423.52-2003
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電工電（diàn）子產品環（huán）境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法 試驗77：結（jié）構強度與撞擊
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GB/T 2424.1-1989
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電工電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 高溫低（dī）溫試驗導（dǎo）則
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GB/T 2424.2-1993
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電工電子產品基本（běn）環境（jìng）試驗規程 濕熱試驗導則
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GB/T 2424.10-1993
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電工電子產品基本環境試驗規程 大氣腐蝕加速（sù）試驗的通用（yòng）導（dǎo）則
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GB/T 2424.13-2002
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電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方（fāng）法 溫度變化試（shì）驗導則
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GB/T 2424.14-1995
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電工電子產品環境試（shì）驗 第2部分:試驗方法 太陽輻射試驗導則
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GB/T 2424.15-1992
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電工電子產品基本環（huán）境試驗規程 溫（wēn）度/低氣壓綜合試驗導則
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GB/T 2424.17-1995
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電工電（diàn）子產品環（huán）境試驗 錫焊試驗導則
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GB/T 2424.19-1984
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電工電子產品基本環境試驗規程 模擬貯存影響的（de）環境試驗導則
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GB/T 2424.20-1985
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電工電子產品基本環境試驗規（guī）程 傾斜和搖擺試驗導則
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GB/T 2424.22-1986
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電工電子產品基本環境試驗規程 溫度(低溫、高（gāo）溫)和振動(正弦)綜合試驗導則
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GB/T 2424.24-1995
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電工電子產（chǎn）品環境試驗 溫度（dù）(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦) 綜合試驗導則
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GB 2423.10-1981
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電工電（diàn）子產品基本環境（jìng）試（shì）驗規程 試驗Fc:振動(正弦)試驗（yàn）方法
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GB 2423.11-1982
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Fd:寬帶隨機振動試驗方法（fǎ） 一（yī）般要求（qiú）
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GB 2423.12-1982
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Fda:寬帶隨機（jī）振動試驗（yàn）方法-高再現性
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GB 2423.13-1982
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電工電（diàn）子產品（pǐn）基（jī）本環境試（shì）驗規程（chéng） 試驗Fdb:寬帶隨機振動試驗方法 中再現性
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GB 2423.14-1982
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電工電子產（chǎn）品基本環（huán）境試驗規（guī）程 試驗Fdc:寬帶（dài）隨機振動試驗方法-低再現性
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GB 2423.15-1981
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電工電子產品基本環（huán）境試驗規程 試驗Ga:恒定加（jiā）速度試驗方法（fǎ）
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GB 2423.17-1981
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電工（gōng）電子產品基本環境試驗規（guī）程 試驗Ka:鹽霧試驗方（fāng）法
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GB 2423.22-1987
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N:溫度變化試驗（yàn）方法
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GB 2423.23-1982
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電工電（diàn）子產品基本環境試驗規程 試驗Q:密封
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GB 2423.24-1981
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電工電子產品基（jī）本環境試驗規程 試驗Sa:模擬地麵上的太陽輻射試驗（yàn）方法
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GB 2423.4-1981
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電工（gōng）電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 試驗Db:交變濕（shī）熱試驗方法
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GB 2423.5-1981
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電工電子產品基本環境試驗規（guī）程 試驗Ea:衝擊試驗方法
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GB 2423.6-1981
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電工電子產品基本環境（jìng）試驗規程 試驗Eb:碰撞試驗方法
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GB 2423.7-1981
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電工電子產品基本（běn）環境試驗規程 試（shì）驗Ec:傾跌與翻倒試驗方法
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GB 2423.8-1981
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ed:自由跌落試（shì）驗方法（fǎ）
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GB 2423.9-1989
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電工電子產品基本（běn）環境試驗規程 試驗Cb:設備用（yòng）恒定濕熱試（shì）驗方法
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GB 2424.10-1981
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電工電子產品基本環境試驗規程 大氣腐蝕（shí）加速試驗的通用導則
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GB 2424.14-1981
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電工電子產品基本環境試驗規程 太陽輻射試驗導（dǎo）則
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GB 2424.16-1982
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電工電（diàn）子產品基本（běn）環境試驗規程 密封（fēng）試驗導則
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