GB/T 2423，IEC 60068，運（yùn）輸測試，環境（jìng）試驗（yàn）-蘇州羞羞视频app工業檢測技術有限公司

GB/T 2423環境試驗

更新：2021-07-10 16:31:29 點擊：

項目介紹

　　 GB/T 2423.24-2013
GB/T 2423全（quán）項測試項目請查看文章：《中（zhōng）國國家標準GB/T 2423《電工電子產（chǎn）品環境試驗》標準和項目》也可谘詢在線客服：18018198853（vx同號）

　　GB/T 2423.24-2013是關於《電工電子產品環境（jìng）試驗第（dì）2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地麵上的（de）太陽輻射》的測試方（fāng）法。GB/T 2423.24-2013是GB/T 2423的第（dì）24部分。本部（bù）分代替GB/T 2423.24 1995《電工電子產品環境（jìng）試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地麵上的太陽輻射》和GB/T 2424.14-1995《電（diàn）工電子（zǐ）產品環境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗（yàn）導則》。

GB/T 2423.24-1995	《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方（fāng）法試驗Sa：模擬地麵上（shàng）的太陽輻射》
GB/T 2424.14-1995	《電工（gōng）電子（zǐ）產品環境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗（yàn）導則》。

　　GB/T 2423.24 -1990及GB/T 2424.14 1995與GB/T 2423.24

　　IEC 60068-2-5：2010《環境試驗（yàn）第2-5部分：試驗試驗（yàn）Sa：模擬地麵上的太陽輻射及其試驗導則》。

GB/T 2421.1 2008	電工電子產品（pǐn）環（huán）境試驗概述和（hé）指南(IEC 60068-1：1988，IDT)點擊查看
GB/T 2423.1 2008	電工電子產品環（huán）境試驗第2部分：試（shì）驗方法試驗A：低溫（wēn）(IEC 60068-2-1: 2007 ,IDT)
GB/T 2423.2 2008	電（diàn）工（gōng）電子產品環境試驗第（dì）2部分：試驗方法試驗B：高（gāo）溫(IEC 60068-2-2: 2007 ,IDT)
GB/T 2423.32006	電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方（fāng）法試驗Cab：恒定濕熱試驗(IEC 60068-2-78: 200I,IDT)

　　IEC60068-2-5:2010《環境試驗（yàn）第2-5部分（fèn）:試驗試驗Sa:模擬地麵上的太（tài）陽（yáng）輻射及其試（shì）驗（yàn）導則》。　　本部分與IEC 60068-2-0：2010相比，主要做了（le）下列編輯性修改：本部分的名稱改為：“環境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬（nǐ）地麵上的太陽輻射及其試驗導則（zé）”;

　　與本部分中規範性（xìng）引用的（de）國際文件有一（yī）致性對應關係的我國文件如下:

GB/T2421.1—2008	電工電子產品環境試驗概述和指南（nán）(IEC60068-1:1988,IDT)
GB/T2423.1—2008	電工電子產品環（huán）境試驗第（dì）2 部（bù）分:試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T2423.2—2008	電工電子產品環境試驗第2 部分:試驗方法試（shì）驗B:高溫(IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T2423.3—2006	電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定（dìng）濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001,IDT)

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