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標準編(biān)號
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標準名稱
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GB/T 2423.1-2001
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電工電子產品環境試驗 第2部分(fèn):試驗方(fāng)法 試驗A:低溫
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GB/T 2423.2-2001
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電工電子產品環境試(shì)驗(yàn) 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
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GB/T 2423.3-1993
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
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GB/T 2423.4-1993
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電工電子產品基本(běn)環境試驗規程 試驗Db: 交變濕(shī)熱試驗方法
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GB/T 2423.5-1995
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電工電子產品(pǐn)環境試(shì)驗 第2部分(fèn):試驗方法 試驗Ea和導則:衝(chōng)擊
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GB/T 2423.6-1995
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電工電子產(chǎn)品環境試驗 第2部分:試驗方法(fǎ) 試驗Eb和導則:碰撞
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GB/T 2423.7-1995
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用於設備型樣品)
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GB/T 2423.8-1995
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電工電子產品環境試驗 第(dì)2部分:試(shì)驗方法 試驗Ed:(自由跌落)測試項目 請點擊查看
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GB/T 2423.9-2001
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cb:設備用恒定濕熱
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GB/T 2423.10-1995
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電工電子產品環境試(shì)驗 第2部分:試(shì)驗方法 試驗Fc和導則:振動(正弦)
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GB/T 2423.11-1997
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電工電(diàn)子(zǐ)產品環境試驗 第2部分(fèn):試驗方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機振動--一般(bān)要求
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GB/T 2423.12-1997
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電工電(diàn)子產(chǎn)品環境試驗 第2部分:試驗方(fāng)法 試驗Fda:寬頻帶(dài)隨機振動--高再現性
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GB/T 2423.13-1997
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動--中再現性(xìng)
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GB/T 2423.14-1997
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電工電子產品環境試驗 第(dì)2部分:試驗(yàn)方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動--低再現性
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GB/T 2423.15-1995
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則:穩態加速度
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GB/T 2423.17-1993
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電工電(diàn)子產品基本環境試驗規程試驗Ka:鹽霧試驗方法
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GB/T 2423.18-2000
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電工電子產品環境試驗 第2部分(fèn):試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
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GB/T 2423.21-1991
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電工(gōng)電子產品基本環境試驗規程 試驗 M: 低氣壓試驗方法
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GB/T 2423.22-2002
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電工電子產(chǎn)品(pǐn)環境試驗(yàn) 第2部分(fèn):試驗方法(fǎ) 試驗N:溫度變化
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GB/T 2423.23-1995
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電工電子(zǐ)產品環境試(shì)驗 試驗Q:密封
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GB/T 2423.24-1995
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗Sa:模擬地麵上的太(tài)陽輻射(IEC 60068)查看
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GB/T 2423.25-1992
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
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GB/T 2423.26-1992
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電工電子(zǐ)產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM:高溫(wēn)/低氣壓綜合試驗
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GB/T 2423.27-1981
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電工電(diàn)子產品基本環境試驗規程 試驗(yàn)Z/AMD:低(dī)溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法
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GB/T 2423.28-1982
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電工電子產品(pǐn)基本環境試驗規程 試驗(yàn)T:錫焊試驗方法
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GB 2423.31-1985
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電工電子產品基本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
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GB/T 2423.34-1986
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電工電(diàn)子產(chǎn)品基本環境試驗規程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗方法
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GB/T 2423.35-1986
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電工電子(zǐ)產品基本環境試驗規程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正(zhèng)弦)綜合試驗方法
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GB/T 2423.36-1986
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BFc:散熱(rè)和非散熱樣品的高溫/振動(正弦(xián))綜合試驗方
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GB/T 2423.38-1990
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電工電子產品(pǐn)基本環境試驗規(guī)程 試驗R:水試驗方法
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GB 2423.39-1990
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電工電子產品基本(běn)環境試驗規程 試驗Ee:彈跳試驗方法
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GB/T 2423.40-1997
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電(diàn)工電(diàn)子產品環境(jìng)試驗 第2部分:試驗方法(fǎ) 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
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GB/T 2423.41-1994
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電(diàn)工電子產品(pǐn)基本環境試(shì)驗規程 風壓試驗方法
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GB/T 2423.42-1995
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電工電子產品環境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦) 綜合試(shì)驗方法
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GB/T 2423.43-1995
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電工電(diàn)子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 元(yuán)件、設備(bèi)和其他產品在衝擊(jī)(Ea)、碰撞(Eb)、振動(Fc和Fd)和穩態加速度(Ga)等動力學試(shì)驗中的安裝要求和導則
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GB/T 2423.44-1995
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈(dàn)簧錘
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GB/T 2423.45-1997
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電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序
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GB/T 2423.47-1997
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電工電子產品(pǐn)環境試驗 第2部分:試驗(yàn)方(fāng)法 試驗Fg:聲振
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GB/T 2423.48-1997
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗Ff:振動--時間曆程法
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GB/T 2423.49-1997
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電(diàn)工電子產(chǎn)品環境試(shì)驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動--正弦拍頻法
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GB/T 2423.50-1999
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電工電子(zǐ)產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用於元(yuán)件的加速試驗
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GB/T 2423.51-2000
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電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗(yàn)Ke:流動混合氣體腐蝕試驗
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GB/T 2423.52-2003
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電工(gōng)電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗77:結構強度與(yǔ)撞擊
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GB/T 2424.1-1989
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電工電子產品基本環境試驗規程 高溫低溫試(shì)驗(yàn)導(dǎo)則
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GB/T 2424.2-1993
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電(diàn)工電子產品基本環境試驗規程 濕熱試(shì)驗導(dǎo)則
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GB/T 2424.10-1993
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電工電子產(chǎn)品基本環境試驗規程 大氣腐蝕加(jiā)速試驗的通用導則
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GB/T 2424.13-2002
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電工電子產品環境試驗(yàn) 第2部(bù)分:試驗方(fāng)法 溫度變化試驗導則
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GB/T 2424.14-1995
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電工電子產品環境(jìng)試驗(yàn) 第2部分(fèn):試驗方法 太陽輻射(shè)試驗導則
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GB/T 2424.15-1992
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電工(gōng)電子產品基本環境試驗規程 溫度/低氣壓綜合試驗導則
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GB/T 2424.17-1995
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電工電子產品環境試驗 錫焊試驗導則
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GB/T 2424.19-1984
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電(diàn)工電子產品基本環境試驗(yàn)規程 模擬貯存影響的環境試驗導則
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GB/T 2424.20-1985
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電(diàn)工電子產品基本環境試驗(yàn)規程 傾斜和搖擺試驗導則
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GB/T 2424.22-1986
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電工電子產品基本環境試驗規程(chéng) 溫度(低溫(wēn)、高溫)和振動(dòng)(正(zhèng)弦)綜合(hé)試驗導則(zé)
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GB/T 2424.24-1995
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電(diàn)工電子(zǐ)產品環境試驗(yàn) 溫(wēn)度(dù)(低溫、高溫(wēn))/低氣壓/振動(正(zhèng)弦(xián)) 綜合試驗導則
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GB 2423.10-1981
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電工(gōng)電子產品基本環境試驗規程 試驗Fc:振動(正弦)試驗方(fāng)法
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GB 2423.11-1982
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Fd:寬帶隨機振動試驗方(fāng)法 一般要求(qiú)
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GB 2423.12-1982
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電工電子產品基(jī)本(běn)環境試驗規程 試驗Fda:寬帶隨機振動試驗方法-高再現性
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GB 2423.13-1982
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電工電(diàn)子產品基本環境試驗規程 試驗Fdb:寬帶隨機振動試驗方法 中再現性(xìng)
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GB 2423.14-1982
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電工電子產品基(jī)本環境試驗規程 試驗Fdc:寬(kuān)帶隨機振動試驗方法-低再現性
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GB 2423.15-1981
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電工(gōng)電子產品基本環境試驗規程 試驗(yàn)Ga:恒定加速度試驗方法
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GB 2423.17-1981
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電(diàn)工(gōng)電子產品基本環境試驗規程 試驗Ka:鹽霧試(shì)驗方法
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GB 2423.22-1987
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電工電(diàn)子產品基本環境試驗規程 試驗(yàn)N:溫度變化(huà)試驗方法
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GB 2423.23-1982
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Q:密封
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GB 2423.24-1981
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電工電子產品基(jī)本環境試驗規程 試驗Sa:模擬地麵(miàn)上的太陽輻射試驗方法
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GB 2423.4-1981
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電工電子產品基本(běn)環境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
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GB 2423.5-1981
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電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ea:衝擊試驗方法(fǎ)
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GB 2423.6-1981
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電(diàn)工電子產品基(jī)本環境試驗規程 試驗Eb:碰撞(zhuàng)試驗方法
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GB 2423.7-1981
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電工(gōng)電子產(chǎn)品基本環境試驗規程 試驗Ec:傾跌(diē)與翻倒(dǎo)試驗方法
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GB 2423.8-1981
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電工電子(zǐ)產品基本環境試(shì)驗規(guī)程 試驗Ed:自由跌落試驗方法
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GB 2423.9-1989
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電工電子產品基本(běn)環境試驗規程 試驗Cb:設備用恒定濕熱試驗方法(fǎ)
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GB 2424.10-1981
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電工電子產品基(jī)本(běn)環境試驗規程 大氣腐蝕加速試(shì)驗的通用導則
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GB 2424.14-1981
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電工電子產品基本環境試驗規程 太陽輻射試驗導則
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GB 2424.16-1982
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電工電(diàn)子(zǐ)產品基本環(huán)境試(shì)驗規程 密封試驗導則(zé)
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