常見檢(jiǎn)測(cè)標準
ASTM D4169(醫療醫藥)
GB/T 14710(醫械環(huán)境)
GB/T 4857(基本試驗)
ISTA 3E(集合(hé)包裝)
ISTA 6A(電商專用)
ISTA 3A(單包裹件)
ISTA 2A(賣方標準件)
其它檢測標準(zhǔn)
常(cháng)見測試項目
加速老化試驗
振動/震動測試
跌落/摔(shuāi)箱測試
環境可靠性試驗(yàn)
斜麵/角衝擊實驗
高海(hǎi)波(bō)低氣壓試驗(yàn)
抗壓(堆碼)測試
夾持(夾抱)測試
包裝材料 包材檢測
其他(項目)測試
行業應用
電商-行業
醫械及醫藥
國防裝備專用
家具及家居用品(pǐn)
汽車配件(jiàn)/新能源(yuán)
家電及電子消(xiāo)費品
其它(tā)行(háng)業應用
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SJ/T 11326 標準 全稱為《SJ/T 11326-2006 數字電(diàn)視接(jiē)收設備術語》 ,該標準由中華人民共和國信息產業(yè)部發布,於 2006 年 10 月 1 日(rì)起實(shí)施。
一、SJ/T 11326 標準基本信息
標準編號SJ/T 11326-2019
SJ/T 是中國電(diàn)子行業推(tuī)薦性標準的(de)代號(hào),其中(zhōng):SJ 代表(biǎo) “電子”(電子工業(yè)部/電子信息行業(yè)),T 表示該標準為 推薦性標準(zhǔn)(與強製性標準(zhǔn) “SJ” 相對(duì)),(SJ/T = 電子行(háng)業,T = 推(tuī)薦性)SJ/T標準屬於 電子工業推薦性標準。
二、涵蓋領域
1.電子元器件技術要求或測試(shì)方法
2.電子產品可靠性、環境適應性試驗(yàn)
3.電子材料、印製電路板(PCB)、焊料等相關規範
4.電子設備或組件的性能指標、安全要求
5.與電(diàn)子製(zhì)造工藝、檢測相關的標準化文件
例如:數字電視接收及顯示設備
電子產品環境適應性或(huò)可靠性試驗項目:如溫濕度循環、振動、衝擊、老化等試驗條件與評價(jià)方法。
環境(jìng)試驗項目(mù)
環境(jìng)試驗項目包括氣候環境試驗(以下簡稱氣(qì)候試(shì)驗)和機(jī)械環境試驗(以下簡稱機械試驗),先進行(háng)氣候(hòu)試驗,再進行(háng)機械試驗。氣(qì)候試驗和機械試驗應在同一(yī)樣品上進(jìn)行。
◆氣候試驗項目
氣(qì)候試驗項目如下:
a)高溫負荷試驗;b)高溫貯存試驗;c)恒定濕熱試驗;d)高(gāo)溫高濕負荷試驗;e)低溫負荷試驗;f)低溫貯存試驗(yàn);g)溫度變化試驗;h)低氣壓試驗(僅適(shì)用於海拔2000m以上的高原地區使用的產品)。
◆機(jī)械試驗項(xiàng)目(mù)
機械試驗項目如下:
a)掃(sǎo)頻振動試驗(yàn);b)碰撞試(shì)驗;c)自由跌落試驗。
◆預處理條(tiáo)件
預處理條件如下:
a)溫度:20℃~30℃;b)相(xiàng)對濕度:25%~75%;c)氣壓:86 kPa~106 kPa。
樣品的恢複和檢測條件
樣品經試驗之後(hòu)的恢複和(hé)檢測均在下列試驗用標準大氣條件下進行:
a)溫度:15℃~35℃;b)相對濕度:25%~75%;c)氣壓(yā):86 kPa~106 kPa。
三、總結:
檢測對象 序號 項目/參(cān)數 檢測標準(方(fāng)法) 備注(zhù)說明 數字電視接(jiē)收 及顯示設備 1 高溫負荷試驗 SJ/T11326-20166.1.1 GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分:試驗(yàn)方法 高溫(IEC 60068-2-2:2007,IDT) 2 高溫貯存試驗 SJ/T11326-20166.1.2 GB/T 2424.1-2005電工(gōng)電子(zǐ)產品基本環境試驗規程(chéng)高(gāo)溫低溫試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-1:1974 IDT) 3 恒定濕(shī)熱試驗 SJ/T11326-20166.1.3 GB/T2423電工(gōng)電子產品環境試驗 4 高溫高濕負荷試驗 SJ/T11326-20166.1.4 GB/T2423電工電子產品(pǐn)環境試驗 5 低溫負荷試驗 SJ/T11326-20166.1.5 GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法(fǎ) 低溫(IEC 60068-2-1:2007,IDT) 6 低溫貯存試驗 SJ/T11326-2016 6.1.6 GB/T 2424.1-2005電工電子產品基(jī)本環境試驗規程高溫低(dī)溫(wēn)試驗導則(IEC60068-3-1:1974 IDT) 7 溫度變化試驗(yàn) SJ/T11326-2016 6.1.7 GB/T2423電工電子產品環境試驗 8 低氣壓試驗 SJ/T11326-2016 6.1.8 GB/T2423.10-2008電(diàn)工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法振動(正弦(xián))(IEC 60068-2-13:1983,IDT) 9 掃頻振動(正 弦)試(shì)驗 SJ/T11326-2016 6.2.3 GB/T2423.10-1995電工電子產品環境試驗第2部分(fèn):試驗方(fāng)法 振動(正(zhèng)弦)(IEC 60068-2-6:1995,IDT) 10 碰撞試驗 SJ/T11326-2016 6.2.2 GB/T2423.6-2008電工電(diàn)子產品環境(jìng)試驗第2部分:試驗方法(fǎ) 碰撞(IEC 60068-2-29:1987,IDT) 11 自由(yóu)跌落試驗 SJ/T11326-2016 6.2.4
檢測對象
序號
項目/參(cān)數
檢測標準(方(fāng)法)
備注(zhù)說明
數字電視接(jiē)收
及顯示設備
1
高溫負荷試驗
SJ/T11326-20166.1.1
GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分:試驗(yàn)方法 高溫(IEC 60068-2-2:2007,IDT)
2
高溫貯存試驗
SJ/T11326-20166.1.2
GB/T 2424.1-2005電工(gōng)電子(zǐ)產品基本環境試驗規程(chéng)高(gāo)溫低溫試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-1:1974 IDT)
3
恒定濕(shī)熱試驗
SJ/T11326-20166.1.3
GB/T2423電工(gōng)電子產品環境試驗
4
高溫高濕負荷試驗
SJ/T11326-20166.1.4
GB/T2423電工電子產品(pǐn)環境試驗
5
低溫負荷試驗
SJ/T11326-20166.1.5
GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法(fǎ) 低溫(IEC 60068-2-1:2007,IDT)
6
低溫貯存試驗
SJ/T11326-2016 6.1.6
GB/T 2424.1-2005電工電子產品基(jī)本環境試驗規程高溫低(dī)溫(wēn)試驗導則(IEC60068-3-1:1974 IDT)
7
溫度變化試驗(yàn)
SJ/T11326-2016 6.1.7
GB/T2423電工電子產品環境試驗
8
低氣壓試驗
SJ/T11326-2016 6.1.8
GB/T2423.10-2008電(diàn)工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法振動(正弦(xián))(IEC 60068-2-13:1983,IDT)
9
掃頻振動(正 弦)試(shì)驗
SJ/T11326-2016 6.2.3
GB/T2423.10-1995電工電子產品環境試驗第2部分(fèn):試驗方(fāng)法 振動(正(zhèng)弦)(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
10
碰撞試驗
SJ/T11326-2016 6.2.2
GB/T2423.6-2008電工電(diàn)子產品環境(jìng)試驗第2部分:試驗方法(fǎ) 碰撞(IEC 60068-2-29:1987,IDT)
11
自由(yóu)跌落試驗
SJ/T11326-2016 6.2.4
本文上部配圖說明:
1、富(fù)港(gǎng)檢測站內(nèi)圖片為羞羞视频app包裝實驗室(shì)實(shí)地拍攝(本(běn)圖有版權(quán),請勿(wù)盜(dào)圖)!
2、一(yī)組包(bāo)裝(zhuāng)測試程(chéng)序(xù)由多個試驗項目組成,因空間有限,本文上部配圖僅列舉其中一個測(cè)試設備或一個場景圖片作為代表(biǎo)供您了(le)解使用,請(qǐng)見諒(liàng),如需更多信(xìn)息,請(qǐng)與我司包裝測試顧問聯係!感謝您的來(lái)訪與(yǔ)支(zhī)持!
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GB/T 14710-20
YY/T 0291-201
GB/T4996底鋪板抗彎
GB/T4996氣囊(náng)抗彎試
GB/T 4996抗彎試驗
GB/T 4996托盤角跌
GB/T 4996剪切衝擊
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