SJ/T 11326電子產品（pǐn）環境適應性或可靠性試驗（yàn）-蘇州羞羞视频app工業檢測技術有限公司

SJ/T 11326環境可靠性試驗

更新：2025-12-15 08:53:03 點擊（jī）：

項（xiàng）目介紹

　　SJ/T 11326 標準全稱為《SJ/T 11326-2006 數字電（diàn）視接（jiē）收設備術語》，該標準由中華人民共和國信息產業（yè）部發布，於 2006 年 10 月 1 日（rì）起實（shí）施。

　　一、SJ/T 11326 標準基本信息

　　標準編號SJ/T 11326-2019

　　SJ/T 是中國電（diàn）子行業推（tuī）薦性標準的（de）代號（hào），其中（zhōng）：SJ 代表（biǎo） “電子”（電子工業（yè）部/電子信息行業（yè）），T 表示該標準為 推薦性標準（zhǔn）（與強製性標準（zhǔn） “SJ” 相對（duì）），（SJ/T = 電子行（háng）業，T = 推（tuī）薦性）SJ/T標準屬於 電子工業推薦性標準。

　　二、涵蓋領域

　　1.電子元器件技術要求或測試（shì）方法

　　2.電子產品可靠性、環境適應性試驗（yàn）

　　3.電子材料、印製電路板（PCB）、焊料等相關規範

　　4.電子設備或組件的性能指標、安全要求

　　5.與電（diàn）子製（zhì）造工藝、檢測相關的標準化文件

　　例如：數字電視接收及顯示設備

　　電子產品環境適應性或（huò）可靠性試驗項目：如溫濕度循環、振動、衝擊、老化等試驗條件與評價（jià）方法。

　　環境（jìng）試驗項目（mù）

　　環境（jìng）試驗項目包括氣候環境試驗（以下簡稱氣（qì）候試（shì）驗）和機（jī）械環境試驗（以下簡稱機械試驗），先進行（háng）氣候（hòu）試驗，再進行（háng）機械試驗。氣（qì）候試驗和機械試驗應在同一（yī）樣品上進（jìn）行。

　　◆氣候試驗項目

　　氣（qì）候試驗項目如下：

　　a)高溫負荷試驗；b)高溫貯存試驗；c)恒定濕熱試驗；d)高（gāo）溫高濕負荷試驗；e)低溫負荷試驗；f)低溫貯存試驗（yàn）；g）溫度變化試驗；h)低氣壓試驗（僅適（shì）用於海拔2000m以上的高原地區使用的產品)。

　　◆機（jī）械試驗項（xiàng）目（mù）

　　機械試驗項目如下：

　　a)掃（sǎo）頻振動試驗（yàn）；b)碰撞試（shì）驗；c)自由跌落試驗。

　　◆預處理條（tiáo）件

　　預處理條件如下：

　　a)溫度：20℃～30℃；b)相（xiàng）對濕度：25%～75%；c)氣壓：86 kPa～106 kPa。

　　樣品的恢複和檢測條件

　　樣品經試驗之後（hòu）的恢複和（hé）檢測均在下列試驗用標準大氣條件下進行：

　　a)溫度：15℃~35℃；b）相對濕度：25%～75%；c)氣壓（yā）：86 kPa～106 kPa。

三、總結：

檢測對象	序號	項目/參（cān）數	檢測標準（方（fāng）法）	備注（zhù）說明
數字電視接（jiē）收及顯示設備	1	高溫負荷試驗	SJ/T11326-20166.1.1	GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗（yàn）方法高溫（IEC 60068-2-2:2007，IDT）
	2	高溫貯存試驗	SJ/T11326-20166.1.2	GB/T 2424.1-2005電工（gōng）電子（zǐ）產品基本環境試驗規程（chéng）高（gāo）溫低溫試驗導（dǎo）則（IEC60068-3-1:1974 IDT)
	3	恒定濕（shī）熱試驗	SJ/T11326-20166.1.3	GB/T2423電工（gōng）電子產品環境試驗
	4	高溫高濕負荷試驗	SJ/T11326-20166.1.4	GB/T2423電工電子產品（pǐn）環境試驗
	5	低溫負荷試驗	SJ/T11326-20166.1.5	GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法（fǎ）低溫（IEC 60068-2-1:2007，IDT）
	6	低溫貯存試驗	SJ/T11326-2016 6.1.6	GB/T 2424.1-2005電工電子產品基（jī）本環境試驗規程高溫低（dī）溫（wēn）試驗導則（IEC60068-3-1:1974 IDT)
	7	溫度變化試驗（yàn）	SJ/T11326-2016 6.1.7	GB/T2423電工電子產品環境試驗
	8	低氣壓試驗	SJ/T11326-2016 6.1.8	GB/T2423.10-2008電（diàn）工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法振動（正弦（xián））（IEC 60068-2-13:1983，IDT）
	9	掃頻振動（正弦）試（shì）驗	SJ/T11326-2016 6.2.3	GB/T2423.10-1995電工電子產品環境試驗第2部分（fèn）：試驗方（fāng）法振動（正（zhèng）弦）（IEC 60068-2-6:1995，IDT）
	10	碰撞試驗	SJ/T11326-2016 6.2.2	GB/T2423.6-2008電工電（diàn）子產品環境（jìng）試驗第2部分：試驗方法（fǎ）碰撞（IEC 60068-2-29:1987，IDT）
	11	自由（yóu）跌落試驗	SJ/T11326-2016 6.2.4

本文上部配圖說明：

　　1、富（fù）港（gǎng）檢測站內（nèi）圖片為羞羞视频app包裝實驗室（shì）實（shí）地拍攝(本（běn）圖有版權（quán），請勿（wù）盜（dào）圖)!

　　2、一（yī）組包（bāo）裝（zhuāng）測試程（chéng）序（xù）由多個試驗項目組成，因空間有限，本文上部配圖僅列舉其中一個測（cè）試設備或一個場景圖片作為代表（biǎo）供您了（le）解使用，請（qǐng）見諒（liàng），如需更多信（xìn）息，請（qǐng）與我司包裝測試顧問聯係!感謝您的來（lái）訪與（yǔ）支（zhī）持!

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